Mikroskopie

 

• Přímý optický mikroskop s odraženým světlem, Zeiss Axio Imager M2, režimy BF (světlé pole), DF (tmavé pole), CDIC (cirkulární diferenciální interferenční kontrast – Nomarski), motorizovaný stolek, SW AxioVision 4.8.2 – metody akvizice obrazu: (multidimensional, Z-Stack, Fast Acqisition, Panorama, Mosaix aj., obrazová analýza: Particle Analyzer, Topography, Measurements, Graphite Shape/Size, Grains, Multiphase aj., možnost korelativní mikroskopie s rastrovacím elaktronovým mikroskopem a mikroskopem s rastrující sondou

​

• Invertovaný optický mikroskop s průchozím světlem a fluorescenčním osvětlením Zeiss Axio Observer A1, SW JenOptik, pro pozorování transparentních vzorků

​

• Mikroskop s rastrující sondou JPK NanoWizard III, AFM (Contact, Noncontact), STM (s konstantní vzdáleností, s konstantním proudem), MFM, CAFM, Nanoindentace, Nanolitografie, Nanomanipulace, Nano Scratch-test, práce pod vodou, heating-cooling stage, možnost korelativní mikroskopie s optickým mikroskopem (Direct Overlay), SW JPK SPM Dektop, JPK Data Processing,Gwyddeon

​

• Rastrovací elektronový mikroskop Zeiss UltraPlus, detektory SE2, InLens, EsB, AsB, EDS, WDS, EBSD, SW AzTec, Inca, SmartSEM, možnost snímání nevodivých vzorků – Charge Compensator (proud dusíku), možnost korelativní mikroskopie s optickým mikroskopem

​

• Povlakování vzorků pro SEM (povlakovačka Quorum) , napařování Au-Pt, C

​

• Finální leštění vzorků proudem Ar iontů (Ar leštička Fischione SEM Mill)